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18511227625更新時間：2024-07-31
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032EMIC愛美克ET-5042 ET-5032渦流探傷儀
| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | ET-5042 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | 1 | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 渦流探傷儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池 |
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032
EMIC愛美克 ET-5042 ET-5032 渦流探傷儀
矢量LCD顯示屏適合自動探傷
配備各種條件設(shè)定顯示（通過直接鍵開關(guān)即可輕松進(jìn)行條件設(shè)定）
通過將自動探傷系統(tǒng)集成到現(xiàn)有的檢查運(yùn)輸線中，可以輕松進(jìn)行配置
可以同時進(jìn)行4個自動探傷
通過可選功能從外部選擇預(yù)先設(shè)置的條件，并且還可以進(jìn)行瑕疵檢測（也提供2ch和3ch）
| 電源入力 | ＡＣ100～240V 50／60Hz *大300VA |
|---|---|
| 試験周波數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)256KHz |
| 感度範(fàn)囲 | 0～60dB 0.2dBステップ可変 |
| 位相範(fàn)囲 | 0～359.5゜0.5°ステップ |
| バランス | 追従式オートバランス（バランススピード８段階可変式） |
| 外形寸法 | H320mm×H177mm×D280mm（突起部除く） |
| 質(zhì)量 | 約7.5kg |
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032
通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r觀
察。
(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)
通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線
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