日本電測膜厚計BTC-221

β射線膠片測厚儀BTC-221

新系統(tǒng)可實現(xiàn)從薄到厚的高精度測量

·使用PC大大提高了操作能力和功能· 
從薄到厚的高精度
測量
· 也可以在小面積部分進行測量·特殊校準曲線易于編程
·計數(shù)校正易于預熱GM管沒必要

Beta-Beam測厚儀BTC-221的特點

大大提高了可操作性和功能

使用個人計算機可以大大提高可操作性和功能。

從薄到厚的測量

通過改變輻射源，可以高精度地從薄膜厚度到高厚度進行測量。

也可以測量小面積

也可以通過更換面罩來測量小面積。有各種口罩可供選擇。

輕松編程特殊校準曲線

多點校準輸入（2至9點）可輕松編程特殊校準曲線。

輕松計數(shù)校正

可以在任何時間進行計數(shù)校正，并且可以在不加熱GM管的情況下進行測量。

多40條校準曲線用于測量

多可存儲40條校準曲線。存儲的校準曲線可以復制到其他通道。

校準曲線可以通過材料的一點校正來重新校準

校準曲線可以通過材料的一點校正來重新校準。

設(shè)定上限值和下限值

您可以設(shè)置有效測量值的上限??值和下限值。

測量膜厚度和組成比

合金膜可以測量膜厚度值和組成比。

管內(nèi)測量φ80mm或更高

如果φ80mm或更大，則可以在管道中進行測量。

可以隨時刪除由于測量誤差導致的薄膜厚度值

可以隨時刪除由測量誤差引起的膜厚度值。

時間和單位可以任意設(shè)定

測量時間可以任意設(shè)置1至999秒。測量單位：μm，MI，mil，成分％，計數(shù)％單位可以隨時更改，測量值自動轉(zhuǎn)換。

用于β射線膠片測厚儀BTC-221的特殊配件

探針指南 MS-11	探針系統(tǒng) H-5	探頭指南RE-5  120°	探頭指南RE-5  180°（帶刻度）

測量原理

當用β輻射照射物質(zhì)時，部分被吸收而部分被透射。有些也是透明的。一些向后散射，劑量取決于材料的厚度和核外電子的數(shù)量（電子數(shù)）。隨著厚度增??加，后向散射量增加（或減少）直到達到飽和厚度，其中無法檢測到劑量增加，因此可以通過比較基板的后向散射量與膜的后向散射量來測量厚度。你。 
因此，基板與膜之間的原子序數(shù)差越大，測量精度越高，原子序數(shù)差越小，測量精度越低。如果原子序數(shù)的差異至少為10％，則可以測量該膜。

Beta厚度計BTC-221的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

日本電測膜厚計BTC-221 日本電測膜厚計BTC-221

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7