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          Mitutoyo三豐M Plan Apo 50x物鏡378-805-3

          更新時間:2024-07-30

          簡要描述:

          Mitutoyo三豐M Plan Apo 50x物鏡378-805-3
          明視場用物鏡
          M Plan Apo /
          M Plan Apo HR
          VMU WIDE VMU FS70 MF-U Hyper MF-U

          型號:廠商性質:經(jīng)銷商瀏覽量:1283
          品牌MITUTOYO/日本三豐貨號378-805-3
          規(guī)格M Plan Apo 50x供貨周期現(xiàn)貨
          主要用途顯微鏡應用領域環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池

          Mitutoyo三豐M Plan Apo 50x物鏡378-805-3

           明視場用物鏡
          M Plan Apo /
          M Plan Apo HR
          VMU WIDE VMU FS70 MF-U Hyper MF-U

           品 名貨號
          數(shù)值孔徑
          NA
          工作距離
          WD(mm)
          焦距
          f(mm)
          分辨力
          R(μm)
          物鏡單體的 焦深
          ±D.F.(μm)
          實際視場(mm) 重量
          ø24目鏡 (g) 1/2型
          相機 (縱×橫)
          M Plan Apo
          M Plan Apo 1× ※1 378-800-3 0.025 11.0 200 11.0 440 24 4.8×6.4 300
          M Plan Apo 2× ※2 378-801-6 0.055 34.0 100 5.0 91 12 2.4×3.2 220
          M Plan Apo 5× 378-802-6 0.14 34.0 40 2.0 14 4.8 0.96×1.28 230
          M Plan Apo 7.5× 378-807-3 0.21 35.0 26.67 1.3 6.2 3.6 0.64×0.85 240
          M Plan Apo 10× 378-803-3 0.28 34.0 20 1.0 3.5 2.4 0.48×0.64 240
          M Plan Apo 20× 378-804-3 0.42 20.0 10 0.7 1.6 1.2 0.24×0.32 270
          M Plan Apo 50× 378-805-3 0.55 13.0 4 0.5 0.9 0.48 0.10×0.13 290
          M Plan Apo 100× 378-806-3 0.70 6.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 320

           

          Mitutoyo三豐顯微鏡單元
          Mitutoyo三豐物鏡 紫外、近紫外、可視、近紅外

          Mitutoyo三豐顯微鏡單元
          日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
          用于半導體、電子、液晶相關等產(chǎn)品的生產(chǎn)
          品質管理系統(tǒng)、實驗研究裝置使用的光學系統(tǒng)
          外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學單元
          微生物等運動物體的觀察 等
          可安裝數(shù)碼相機,通過外部顯示器進行觀察和拍攝。
          可實現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
          與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
          ★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝
          ★微量流體分析用光學系統(tǒng)
          ★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學系統(tǒng)

          M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合,可在紅外線下實
          現(xiàn)可見光下做不到的非破壞性檢查。
          ★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
          ★MEMS內(nèi)部的非破壞評價、三維安裝評價
          ★半導體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器
          ★紅外分光特性分析


          通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的
          組合,能夠對同一位置以不同倍率同時觀
          察。
          (低倍率側:2/3型、高倍率側:1/2型等)

          通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現(xiàn)高精度、高
          品質加工。
          與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
          ★保護膜、有機薄膜等的剝離
          ★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
          ★FPD的各種缺陷修正
          ★光掩模修正
          ★標記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線

          憑借長動作距離設計的物鏡,實現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
          探針臺等組合。
          通過與激光加工裝置組合,還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統(tǒng)。
          此外,還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)

           

           

           

           

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